的负载调整率有着严格的要求，通常电源芯片的负载调整率在3%-5%之间，但某些对产品质量要求高的企业这一指标的数值甚至需要达到2%左右。
电源芯片的负载调整率指的是电源芯片在正常工作时，它的输出电压变化量与负载电流变化量的比值。通常以输出电流从0变化到额定最大电流时，输出电压的变化量和输出电压的百分比值来表示。具体的计算公式为：
负载调整率=(空载时输出电压-满载时输出电压)/(额定负载时输出电压)*100%
通过电源芯片负载调整率的概念我们可以知道，测试芯片的负载调整率只需测试电源芯片输出电流从0到最大额定电流时输出电压数值，所以测试电源芯片的负载调整率需要一台多通道直流电源、一台数字万用表以及一台电子负载即可。
测试电源芯片的负载调整率时我们可以使用ATECLOUD-IC芯片测试系统通过软件控制电源给芯片供电输入，让芯片处于工作状态，之后给芯片的输出端加载输出电流，控制电子负载步进输出电流让其从0逐步增大到额定电流，同时在输出端接入数字万用表，采集每次电流变幻时的输出电压，之后可以通过系统计算出芯片的负载调整率。
使用测试系统可以免去人工配置参数记录数据的过程，可以提升测试效率5-10倍，同时对于精度要求高的设计研发企业系统毫秒级的采样率可以满足多次采样的需求，让测试数据更加精准，从而优化工艺流程;而且ATECLOUD-IC测试系统中的数据报告功能可以根据企业需求完成不同格式模板的报告导出，数据洞察功能更是可以将所有数据综合智能分析，轻松自定义数据看板，数据图表大屏幕集中管控，可以助力企业从产品参数、员工功效、测试效率等多维度、精细化分析企业数据，从而保障企业及时优化研发方向，支持管理决策。
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系统适用于二极管、三极管、绝缘栅型场效应管、结型场效应管、单向和双向可控硅、普通和高速光耦、整流桥、共阴共阳二极管及多阵列器件等各类半导体分立器件综合性能
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基于DWC_ether_qos的以太网驱动开发-LWIP的ICMP模块介绍与PING收发测
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